Фликкер шум
присутствуют
во многих
физических
системах. Его
природа до
конца не
исследована,
а механизмы
возникновения
специфичны для
каждой
системы и
обусловлены
ее физикой.
Установлено,
что спектральная
плотность фликкер
шума описывается
зависимостью:
Откуда
следует, что
при малых
частотах он становится
достаточно
большим (см
рис 1). Этот шум
является
преобладающим
в туннельной
микроскопии.
Рис
1.
Зависимость
спектральной
плотности фликкер шума
от частоты.
Для
того,
чтобы рассчитать
спектральную
плотность
шума
сопротивления,
можно
воспользоваться
формулой Хоухе:
,
где N
– число
носителей
заряда,
R – сопротивление
перехода,
α
–
эмпирический
коэффициент.
Из
опытов было
установлено,
что для
металлов
значение α
~ 2*10-3.
Для
того,
чтобы
получить
значение Iш
необходимо
проделать
следующие математические
выкладки:
.
Из закона
Ома следует:
Рассмотрим,
для примера,
два образца,
первый из
которых
состоит из
золота, а
второй из высокоориентированного
пиролитического
графита
(ВОПГ).
Если
сканирование
ведется при
постоянном
токе, т.е. I = const,
то для обоих
образцов
дробовой шум
будет одинаковым,
т.к.
.
В случае
же если
выбран
способ
сканирования,
при котором
поддерживается
постоянное
расстояние
между
образцом и
иглой, т.е. Rперехода
= const,
будет
одинаковым
тепловой шум,
т.к.
.
Однако,
при том и
другом
способе
сканирования
фликкер
шум у образца
из золота
будет больше,
чем у образца
из ВОПГ. Это
связано с
тем, что на поверхности
золота
происходит
диффузия.
Для того, чтобы
снизить фликкер
шумы с в
сканирующем
туннельном
микроскопе
необходимо
устанавливать
различные фильтры,
обрезающие
низкие
частоты.
Т.к.
одной из
основных
частей
сканирующего
туннельного
микроскопа
является
электроника,
то
необходимо
учитывать
шумы,
связанные с
ней.
Единственным
способом
борьбы с
такого родом
шума
является
совершенствование
электрических
схем и
приборов. В
последние двадцать
лет удалось
разработать
электрические
схемы,
уровень шумов
в которых
составляет 10-14
А.