| |
1.2 СПОСОБЫ СОХРАНЕНИЯ ИНФОРМАЦИИ, ПОЛУЧАЕМОЙ НА АСМ ПРИ КОНТАКТНОМ РЕЖИМЕ СКАНИРОВАНИЯ
Информация от пьезосканера и фотодиода поступает в компьютер, который представляет результат измерений в цифровом виде.
Информацию о поверхности образца можно регистрировать в трех видах: высота (Height), отклонение (Deflection), трение (Friction). Высота — высота образца (перемещение по оси Z пьезосканера). В этом режиме записи содержится информация о рельефе поверхности. В режиме отклонения лучше видны микроскопические детали поверхности, так как этот режим записи соответствует ошибке в системе обратной связи, поддерживающей постоянной деформацию кантилевера (сигнал с фотодиода A+B-C-D). Трение — тангенциальная составляющая деформации кантилевера (сигнал с фотодиода A+C-B-D).
 Поверхность образца представляется “топографической картой”, где, чаще всего, более светлые участки на изображении соответствуют большим значениям высоты и отклонения.
Программный продукт “Центра перспективных технологий” — “ФемтоСкан - 001”,  позволяет обрабатывать полученные изображения (построение сечений, измерение расстояний, построений трехмерных изображений и т. д.). На рис. 2 и 3 представлены изображения бактерий Rodococcus и Escherichia coli, полученные с помощью сканирующего электронного и атомно-силового микроскопа соответственно. Для выполнения лабораторной работы необходимо познакомиться с работой программы “ФемтоСкан - 001”. http://www.nanoscopy.org/Femtoscan-F.shtml
|
|
